魏茂堅(jiān)，徐紅兵（電子科技大學(xué)自動(dòng)化工程學(xué)院，四川成都 610054）   摘  要：討論了通過時(shí)域反射計(jì)的瞬時(shí)反射和傳輸響應(yīng)的測(cè)量來提取寬帶S參數(shù)的一種新的方法。所討論的有理函數(shù)方法，綜合運(yùn)用了廣義束函數(shù)法，遞歸去卷積以及標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)的方法來獲取系統(tǒng)的響應(yīng)。與傳統(tǒng)的算法相比，減少了誤差。該模型與SPICE建立的模型兼容，并且能夠?qū)δＰ偷念l率與瞬時(shí)響應(yīng)進(jìn)行仿真。仿真結(jié)果表明了算法的有效性。   關(guān)鍵詞：時(shí)域反射計(jì)；S參數(shù)；有理函數(shù)；廣義束函數(shù)；遞歸去卷積   中圖分類號(hào)：TM934.7      文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A     文章編號(hào)：1672-4984（2007）01-0057-03   Extraction of S-parameter from TDR measurement WEI Mao-jian， XU Hong-bing （School of Automation Engineering，University of Electronc Science and Technology，Chengdu 610054，China）   Abstract:This paper presented extraction of the brand band S-parameter response from transient reflection and transmission measurement.This method used the Generalized Pencil-of-Function method，recursive deconvolution and calibration structures to obtain the response using rational functions.These models are SPICE compatible and can be used to simulate the frequency or transient response.  Key words:TDR；Scattering parameters；Rational function；GPOF；Recursive deconvolution