2013 年9月 ，美國國家儀器有限公司（National Instruments, 簡稱NI）發(fā)布第二款矢量信號收發(fā)儀NI PXIe-5645R，它建立在軟件的設計架構上，工程師因而可以使用LabVIEW進行修改，以滿足特定的需求。 新的矢量信號收發(fā)儀增加了一個高性能的差分或單端I/Q接口，在一臺儀器上就能測試設備的射頻和基帶信號，最新的PC與FPGA技術能夠縮短測試時間。
       NI射頻研發(fā)副總裁Jin Bains表示：“全新PXIe-5645R矢量信號收發(fā)儀的軟件設計架構，為用戶提供了前所未有的靈活應用，如RF收發(fā)儀基帶測試。”
產(chǎn)品特性
       · 65 MHz至6 GHz的頻率范圍，80 MHz瞬時帶寬和24通道的高速數(shù)字I/Q·基帶I/Q接口與16位120 MS/s的采樣數(shù)據(jù)，帶有高達80 MHz的復雜帶寬，可選擇差分或單端配置·開放、可編程的FPGA，工程師可自行添加用戶自定義的功能· 用戶可以訪問www.ni.com/vst/zhs/，下載預建和可修改的IP，實現(xiàn)最為常見的應用。
更多資源

· 產(chǎn)品、視頻、技術白皮書： http://www.ni.com/vst/zhs·

· 案例分析: http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-15069